蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM系列，具有出色的分辨率，能夠輕松實現(xiàn)亞納米分辨成像以及高探測效率，適用于包括磁性材料的多種材料的高分辨成像與分析。無論是在高真空還是在可變真空壓力模式下，更高的表面細節(jié)信息靈敏度讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備更佳的靈活性，可獲取各類樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像。場發(fā)射掃描電鏡SEM檢測

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更新時間：2024-09-12

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發(fā)射掃描電鏡SEM相關檢測

項目	細則	收費	說明
僅形貌觀察	每個樣品*20min，超出時間將按照每20min一個樣計算；樣限取5張照片/樣	/	/
僅元素分析測試	EDS元素分析/分布包括：點分析（限3點）；線分析；面分析	/	/
形貌觀察和元素分析	SEM每個樣品限取5張照片； EDS元素分析/分布包括；點分析（限3點）；線分析；面分析；	/	/
EBSD	/	/	制樣收費面議
STEM	/	/	/
冷臺、熱臺、WetSTEM原位觀察	需要設計試驗方案，價格面議。	/	/
鍍金	鍍層為Au 5nm	/	/
鍍鉑	鍍層為Pt 5nm	/	/

發(fā)射掃描電鏡SEM相關檢測

蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma系列，采用蔡司Gemini鏡筒，具有高品質的成像和優(yōu)質的分析能力，可選配備多種探測器，以滿足顆粒物、納米結構、薄膜樣品等各種不同的應用需求。EDS幾何設計可實現(xiàn)高性能的元素分析，無論哪種樣品適用范圍廣，且均可獲得準確且可重復的分析結果。

[ 產品特點 ]1. 靈活的探測手段獲取高分辨的圖像2. 智能高效的工作流程3. 高性能的分析系統(tǒng)4. 可擴展拉曼光譜成像5. *的Gemini鏡筒設計-提升光學性能的同時，降低靜電場與磁場對樣品的影響

日立掃描電鏡

該分析用掃描電子顯微鏡適合用于研究大件，較重，較高的樣品。

▲樣品直徑達300mm。▲可觀察范圍直徑達203mm。▲可對高達110mm的樣品進行觀察和能譜分析。▲通用型接口布局滿足各種分析用途。

上一個：Fluorocube系列熒光光譜儀