智能化XRD分析軟件專業(yè)版

Materials  Data   (MDI)總部位千美國加利福尼亞州，幾十年來專注千開發(fā)XRD分析軟件。自主開發(fā)的JADE*采用全譜擬合和Rietveld 方法來分析XRD數(shù)據(jù)，并 且早使用結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)計算模擬衍射圖，向用戶展 示了其重要性。JADE界面友好， 功能強大且使用方便，是 分析XRD數(shù)據(jù)的選擇。現(xiàn)在， JADE   已 經(jīng)遍布世界各地的X射線粉末衍射實驗室并作為標準的XRD分析軟件， 在科學研究、教育及資源探索方面得到廣泛的應(yīng)用。JADE兼容不同品牌衍射儀收集的數(shù)據(jù)， 讓處理和分析XRD數(shù)據(jù)的過程變得更加簡單便捷 ， 為用戶提供準確、中立結(jié)果。我們致力千推進XRD分析方法，并繼續(xù) 為XRD 領(lǐng)域開發(fā)功能更強大的軟件 。

JADE 產(chǎn)品列表

JADE Product Line

智能化XRD分析軟件專業(yè)版
是一種功能強大、全功能的粉末XRD圖處理和分析軟件，尤其注重定量分析和鑒定物相，可 實現(xiàn)非常規(guī)少量物相的準確鑒定和定量分析。JADE經(jīng)歷了幾代界面與算法的發(fā)展， JADE 讓您處理和分析XRD數(shù)據(jù)的過程變得更加簡單便捷， 分析結(jié)果更加清晰易懂。

目前， ICDD-MDI 共發(fā)行JADE Standard (JADE標準版） 和JADE Pro (JADE 專業(yè)版）兩個系列。JADE Standard在基礎(chǔ)版本上，有兩個可選功能模塊，即 Search/Match (S/M, 物相檢索）和Whole Pattern Fitting (WPF, 全譜擬合）。JADE Pro包含XRD數(shù)據(jù)分析的所有功能 ， 物相鑒定、全譜擬合、Rietveld精修、晶粒尺寸和微觀應(yīng)力分析、粉末解析結(jié)構(gòu)等功能。用戶可根據(jù)自身需求，選擇 適合自己的模板。

JADE — 科學家信賴的產(chǎn)品

JADE —Scientist Trust XRD Applications

智能化分析一分析結(jié)果更快、更準

JADE采用啟發(fā) 式方法自動進行分析 ，自 動檢測文件格式

JADE 可自 動擬合背景 、尋峰 、 鑒定物相以及標定品質(zhì)因數(shù) (FOM)

JADE的＂一鍵式全譜擬合分析'功能十分強大，速度驚人，定性定噩 分析結(jié)果更好

JADE 可批量進行 Rietveld分析，分析結(jié)果可直接用 千文章發(fā)表或 學術(shù)報告

JADE Pro采用傅立葉電 荷圖 快速確定晶 體結(jié)構(gòu)

同一界面一統(tǒng)一結(jié)果

JADE適配千不同品牌的衍射儀，有效 統(tǒng)— 分析 數(shù)據(jù)

J ADE提供新數(shù)據(jù)的檢索方法和數(shù)據(jù)分析 方法， 使您的設(shè) 備繼續(xù)保持生命力

JADE可兼容大部分晶 體學數(shù)據(jù)庫， 包括 PDF 數(shù)據(jù)庫 ， CIF 等，支持用戶自定義數(shù)據(jù)庫

獨立千衍射儀一無偏見的分析結(jié)果

獨立千硬件制造商 ，專注于開發(fā) XRD 數(shù)據(jù)分析應(yīng)用軟件

JADE可兼容所有衍射儀生成的文件格式，包括同步

JADE可兼容所有衍射儀生成的文件格式， 包括同     步 輻 射 、理 學，布 魯克 ( Siemens),馬爾文帕納科 (Ph由ps) , ARL 賽默飛 (Scintag), 島津，Proto, XOS, X-Y格式以 及其他 格式的 數(shù)據(jù)

對任何衍 射儀測試的 數(shù)據(jù)均 可得到 無偏見的 分析結(jié)果，致力千追求準確的、無偏見的 XRD分析和結(jié)果

靈活的網(wǎng)絡(luò)授權(quán)－易千分享，的選擇

• JADE 系列產(chǎn)品均使用電子，以 便 在不同電腦上運行

• JADE Pro 可在局域網(wǎng)內(nèi) 輕松訪問，共享使用

• 用戶 可自定義個性化JADE 界面
• 同時購買多個使用權(quán)限，可享更多折扣